西門(mén)子與聯(lián)華電子合作，為聯(lián)華電子的晶圓上晶圓和晶圓上芯片技術(shù)開(kāi)發(fā)和實(shí)施新的多芯片 3D IC 規(guī)劃、組裝驗(yàn)證和 PEX 工作流程。

　　Siemens Digital Industries Software 與 United Microelectronics Corp. (UMC) 合作，為 UMC 的晶圓上晶圓和芯片開(kāi)發(fā)和實(shí)施新的多芯片 3D 集成電路 (IC) 規(guī)劃、組裝驗(yàn)證和寄生參數(shù)提取 (PEX) 工作流程。晶圓上技術(shù)。UMC 計(jì)劃很快將這一新流程提供給其全球客戶名單。

　　通過(guò)在單個(gè)封裝器件中堆疊硅芯片或小芯片，公司可以在相同或更小的芯片面積上實(shí)現(xiàn)多個(gè)器件的功能。與在 PCB 上布局多個(gè)芯片的傳統(tǒng)配置相比，這不僅節(jié)省了空間，而且使公司能夠以更低的功耗實(shí)現(xiàn)更高的系統(tǒng)性能和功能。

　　“我們很高興能夠?yàn)槲覀兊目蛻籼峁?qiáng)大且經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的代工設(shè)計(jì)套件和相關(guān)工作流程，他們可以使用它來(lái)驗(yàn)證他們的堆疊設(shè)備設(shè)計(jì)，并幫助糾正芯片對(duì)齊和連接，同時(shí)提取組裝寄生參數(shù)以用于信號(hào)完整性仿真，”聯(lián)華電子設(shè)備技術(shù)開(kāi)發(fā)和設(shè)計(jì)支持副總裁 Osbert Cheng 說(shuō)。“我們共同的客戶對(duì)高性能計(jì)算、RF 和 AIoT 等應(yīng)用的 3D IC 解決方案越來(lái)越感興趣，與西門(mén)子的合作有助于加快其集成產(chǎn)品設(shè)計(jì)的上市時(shí)間。”

　　UMC 開(kāi)發(fā)了新的混合鍵合 3D 布局與原理圖 (LVS) 驗(yàn)證和寄生提取工作流程，使用 Siemens 的 XPEDITION Substrate Integrator 軟件進(jìn)行設(shè)計(jì)規(guī)劃和組裝，以及 Siemens 的 Calibre 3DSTACK 軟件進(jìn)行芯片間連接檢查，Calibre nmDRC 軟件、Calibre nmLVS 軟件和 Calibre xACT 軟件，用于 IC 和芯片間擴(kuò)展物理和電路驗(yàn)證任務(wù)。

　　Siemens Digital Industries Software 電子板系統(tǒng)高級(jí)副總裁 AJ Incorvaia 表示：“西門(mén)子很高興繼續(xù)與 UMC 合作，這再次為我們共同的客戶帶來(lái)了巨大的利益。” “隨著這些客戶繼續(xù)開(kāi)發(fā)更復(fù)雜的設(shè)計(jì)，聯(lián)華電子和西門(mén)子隨時(shí)準(zhǔn)備提供客戶所需的高級(jí)工作流程，以幫助將這些日益復(fù)雜的設(shè)計(jì)變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。”